Atomic Force Microscopies to study Electronic Properties and Strain in Thin Films for Flexible Electronics.

  • Data: 31 marzo 2017 dalle 12:00 alle 13:00

  • Luogo: Aula riunioni, 1° piano, viale Berti Pichat 6/2

Contatto di riferimento:

Partecipanti: Dr. Tobias Cramer